一种测试用例选取方法、装置及电子设备

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一种测试用例选取方法、装置及电子设备
申请号:CN202411378906
申请日期:2024-09-29
公开号:CN119357048A
公开日期:2025-01-24
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种测试用例选取方法、装置及电子设备,通过本申请实施例提供的测试用例选取方法,可以响应用户输入的参数信息,获取参数信息包含的多个目标参数值,并根据多个目标参数值确定树形数据结构的多个目标节点,其中,在树形数据结构中包含了多个节点,多个节点中任意两个相邻节点之间存在父子关联关系,每个节点所在的层级与参数一一对应,且位于相同层级的每个节点表征相同参数的不同取值,从而将第一目标节点的第一存储空间中保存的测试用例作为目标测试用例进行测试,通过使用树形数据结构对测试用例进行选取,可以降低选取测试用例的时间,提高测试的效率。
技术关键词
树形数据结构 测试用例选取方法 节点 编码 层级 参数 MD5算法 存储程序指令 电子设备 可读存储介质 标识 计算机 通知 关系 存储器 处理器
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