一种光模块测试设备、系统、控制方法及上位机设备

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推荐专利
一种光模块测试设备、系统、控制方法及上位机设备
申请号:CN202411379156
申请日期:2024-09-30
公开号:CN119094017A
公开日期:2024-12-06
类型:发明专利
摘要
本公开实施例提供了一种光模块测试设备、系统、控制方法及上位机设备,所述设备内部设有多个槽位,每个槽位均集成有误码仪的硬件模块;多个槽位通过背板连接;背板设置有控制接口;背板,用于通过控制接口与上位机设备通信,根据上位机设备的控制命令,对多个槽位进行管理控制;误码仪,用于根据背板的指示,对所在槽位内的待测光模块进行测试。现有技术方案中需要多个设备共同完成光模块的完整测试流程,而本公开提供了仅通过一台设备即可支持完整的光模块测试流程的新方案,集成度高,占用空间小;可支持多个光模块同时进行测试,提高了测试效率。
技术关键词
上位机设备 光模块测试设备 误码仪 应答反馈信息 测光模块 数字信号处理器 控制接口 背板 温控模块 命令 控制器 光模块测试系统 人机交互界面 控制模块 端口 一台设备 夹具板
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