测试向量文件的编译方法、装置及芯片测试系统

本申请涉及一种测试向量文件的编译方法、装置及芯片测试系统，所述方法包括：读取测试向量文件中的时序数据、管脚数据和测试向量数据，测试向量数据包括多个测试向量；基于时序数据，获取多种测试板卡在测试向量中的排序和对应的时序配置信息；基于排序和管脚数据，获取每个测试向量对应的管脚电平信息，所述管脚电平信息包括被测芯片与多种测试板卡分别连接的各管脚的电平值；基于管脚电平信息，以及多种测试板卡对应的时序配置信息，生成多种测试板卡分别对应的测试向量的编译数据，解决了测试向量文件不支持同一测试向量的多种测试时序的表述，导致测试向量文件编译后无法生成与多类型的测试板卡的测试时序对应的测试指令的问题。