用于在制造中探测组件的生产误差的方法

用于在制造中探测组件的生产误差的方法。本发明涉及用于在制造中探测组件(1)的生产误差的方法(100)，包括以下步骤：‑提供(101)具有至少两个维数(3)的传感器数据(2)，其中所述传感器数据(2)的相应维数(3)分别包括关于组件(1)的测量数据，‑执行(102)传感器数据(2)的降维，其中基于所述传感器数据(2)的至少两个维数(3)提取至少一个特征(4)，‑基于至少一个所提取的特征(4)重建(103)经降维的传感器数据(5)，以便提供所重建的传感器数据(6)，‑基于所述传感器数据(2)与所重建的传感器数据(2)的比较确定(104)重建误差，‑基于所确定的重建误差来探测(105)组件(1)的生产误差。本发明此外涉及用于此目的的计算机程序、设备以及存储介质。