基于多通道扫描的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

本申请公开基于多通道扫描的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，涉及AOI图像检测领域，获取物料板的通道图，使用CAD母版图提取其中的PCS颗粒图像；根据CAD母版图中PCS轮廓线对PCS颗粒图像进行对位校正，根据PCS颗粒图像的目标检测区域生成PCS检测图像；缺陷检测后将缺陷按类型进行标签融合和标签映射；接收对目标缺陷的选择操作，根据PCS颗粒编号和缺陷标签映射关系在缺陷展示界面显示缺陷通道图。该方案按照通道类型选择目标检测区，上传到对应检测模型中，不同检测模型仅仅对各自的目标检测区进行缺陷检测，检测后的缺陷标签再进行融合后显示。如此可以实现分区域更精准的缺陷检测，提高检测精度。