一种瞬时高、低温转化测试芯片用探针装置及其测试方法

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正文
推荐专利
一种瞬时高、低温转化测试芯片用探针装置及其测试方法
申请号:CN202411381720
申请日期:2024-09-30
公开号:CN119224537B
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片检测装置技术领域,尤其是涉及一种瞬时高、低温转化测试芯片用探针装置及其测试方法,包括底座及可拆卸安装在底座上的盖板,所述底座和盖板之间设置有用于放置待检测芯片的空腔体,所述盖板上设置有用于检测芯片的探针,还包括压缩机、第一储气瓶、第二储气瓶和至少一个涡流管制冷器,所述压缩机的输出端与涡流管制冷器的涡旋室连通,所述涡流管制冷器的冷端与第一储气瓶连通,使用时,通过压缩机、涡流管制冷器、第一储气瓶和第二储气瓶配合,在第一储气瓶和第二储气瓶内存储所需温度的气体,并通过控制第一阀门和第二阀门向口腔体内输送所需温度气体,满足多种温度的检测要求,提高检测效率,降低了检测成本。
技术关键词
涡流管制冷器 储气瓶 探针装置 阀门 检测芯片 气室 启动压缩机 测试方法 空腔 芯片检测装置 旋转底座 下盖板 气体 测试探针 密封垫 PCB板
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沪ICP备2023015588号