一种芯片功耗平滑的调试方法、系统、智能设备

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一种芯片功耗平滑的调试方法、系统、智能设备
申请号:CN202411383094
申请日期:2024-09-30
公开号:CN119311500A
公开日期:2025-01-14
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种芯片功耗平滑的调试方法、系统、智能设备,属于智能设备芯片调试技术领域,获取芯片内应用场景包括的功能模块、功能模块运行次序,通过仿真运行各应用场景,基于预设频率、预设步长采样产生的功耗数据得到各功能模块功耗序列,进而得到各应用场景固定次序运行的功能模块和功耗序列,再采用应用场景内和/或外灵活运行功能模块对找到的待补偿功能模块进行功耗补偿和处理后最终得到应用场景最终功能模块运行次序,解决了现有技术中复杂度高、可靠性低、无法兼顾灵活性和性能的问题。
技术关键词
功能模块 功耗 调试方法 场景 序列 智能设备 芯片调试技术 数据采集模块 端点 调试系统 频率可调 复杂度 电流
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