一种提升氮化镓半桥功率芯片可靠性的电平移位电路

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一种提升氮化镓半桥功率芯片可靠性的电平移位电路
申请号:CN202411383990
申请日期:2024-09-30
公开号:CN119315976A
公开日期:2025-01-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种提升氮化镓半桥功率芯片可靠性的电平移位电路,包括脉冲产生电路、电平转换支路、噪声消除电路、负VS容差提升电路、锁存模块;噪声消除电路可以有效抑制dVS/dt噪声的影响,负VS容差提升电路可以提升电路对VS负电压的容差,保证输入信号可以准确地传入锁存模块进行输出,提高氮化镓半桥功率芯片的可靠性。
技术关键词
电平移位电路 噪声消除电路 功率芯片 锁存模块 栅极 电源 信号 高压 电阻 支路 输入端 反相器 电流 电容 低压 窄脉冲 输出端
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