一种系统级芯片测试方法及测试装置

本申请提供了一种系统级芯片的测试方法及测试装置。测试装置包括上位机，测试板以及性能检测设备。上位机生成芯片的测试指令；每个测试板上有多个芯片插槽，测试电源供应模块以及温度控制模块，每个插槽与一个芯片对应，温度控制模块用于将芯片控制在设定的温度区间；性能检测模块与测试板和上位机相连，获取上位机设置的测试指令后将根据测试指令对待测试芯片进行测试；测试获取芯片在不同温度下的测试结果，并传输到分类模块，上位机根据结果对芯片进行分类。