栅极驱动芯片的测试装置

本发明公开了一种栅极驱动芯片的测试装置，栅极驱动芯片的测试装置包括：测试母板；第一测试子板组件，栅极驱动芯片安装座上设置有插拔部，插拔部适于与栅极驱动芯片可拆卸地插接电连接；第二测试子板组件，第二测试子板第一方向的另一侧适于与栅极驱动芯片焊接固定。由此，由于第一测试子板组件中的栅极驱动芯片安装座不耐高温和低温，因此，测试装置将在常温下对栅极驱动芯片安装座上的栅极驱动芯片进行测试，这样可以淘汰掉在常温下不合格的栅极驱动芯片；然后，第二测试子板和测试母板将在高温和低温下对第二测试子板上的栅极驱动芯片进行测试，这样可以使得未被淘汰的栅极驱动芯片在不同温度下均能保持性能的稳定。