一种具备校准功能的集成芯片以及一种芯片校准方法

本申请公开了一种具备校准功能的集成芯片以及一种芯片校准方法，属于半导体领域，该芯片包括：模拟电路；存储模块，用于存储目标标识符以及对集成芯片的模拟电路进行调整的目标参数；其中，目标标识符用于表征目标参数是否通过CP测试和FT测试；信号控制模块，设置于集成芯片的数字电路内，用于读取目标标识符，并与预设标识符进行比较；当目标标识符与预设标识符一致时，判定目标参数通过CP测试和FT测试，将目标参数发送至模拟电路；或者，当目标标识符与预设标识符不一致时，判定目参数未通过CP测试和FT测试，将预设参数发送至模拟电路；目标参数和预设参数均用于保证集成芯片正常工作。通过该方法可以提高测试阶段芯片的良品率。