基于全数字域的片上自测试系统及方法

本申请提供一种基于全数字域的片上自测试系统及方法，所述基于全数字域的片上自测试系统配置于包含至少一个模数转换器和至少一个数模转换器的片上系统芯片中，基于全数字域的片上自测试系统包括：控制器、数字向量生成器、选通加法器以及码存储器；控制器分别与数字向量生成器、选通加法器、码存储器电性连接；通过集成全数字域的内建自测试系统，片上系统芯片可以在内部生成测试信号，并通过内置的数字逻辑对响应信号进行分析，从而实现对ADC、DAC动态特性的精确测试，测试精度高，无需中断系统操作或连接外部设备，显著降低了测试成本，可以在整个芯片生命周期进行性能监控，避免了复杂的模拟测试电路设计，减少了自测试系统占用的芯片面积。