一种器件测试装置及方法

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一种器件测试装置及方法
申请号:CN202411434187
申请日期:2024-10-15
公开号:CN119011458B
公开日期:2025-02-07
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种器件测试装置及方法,涉及器件测试技术领域,其中,该装置包括:主控制器,驱动模块,其中,主控制器用于接收上位机发送的测试向量文件,以对待测器件进行测试;主控制器通过驱动模块与测试板连接,主控制器用于选择目标驱动单元与待测器件进行通讯,主控制器还用于根据待测器件的输出响应信号对待测器件进行回检,目标驱动单元是与待测器件匹配的驱动电路,驱动模块中包括多个支持不同串口通讯模式的驱动电路;其中,待测器件包括以下至少之一:UART串口器件,SPI串口器件,IIC串口器件,CAN串口器件,SWD串口器件。实施本申请提供的技术方案,显著提高了测试装置的通用性和灵活性。
技术关键词
待测器件 主控制器 驱动单元 多路开关 转换单元 器件测试装置 测试板 通道 电平 信号 通讯 金手指 器件测试方法 器件测试技术 接触点 模块 芯片 时序 模式
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