多键合线测试电路以及测试方法

本发明提供了多键合线测试电路以及测试方法，其中，多键合线测试电路包括：一H桥驱动电路，其中的第一驱动模块以及第二驱动模块各自包括串联于电源引脚与接地引脚之间的上功率管、输出引脚和下功率管，H桥驱动电路分别通过键合线组分别连接电源引脚、接地引脚以及输出引脚，内部开关电路串联于两个输出引脚之间；一引脚电压差测量模块，其中的判断单元根据检测电压和拉出电流获得键合线组的检测总电阻，并根据检测总电阻和键合线数量获得单根键合线的检测电阻，通过比较检测电阻与预设电阻的大小，获得键合线组的连接状态信息。本发明能够实现对多根键合线的测试模式，准确检测键合线组的连接状态，从而提高芯片安全性。