一种多维仿真的VCSEL芯片故障点预警系统

本申请提供了一种多维仿真的VCSEL芯片故障点预警系统，涉及半导体激光器技术领域，包括：芯片结构获取模块，用于获取目标VCSEL芯片的芯片结构信息；有限元分析模块，用于生成有限元仿真模型；失效模式采集模块，用于采集芯片失效模式；失效仿真模块，用于建立失效决策预警器；多维监测模块，用于采集多维监测数据；失效预警模块，用于进行芯片失效模式识别和故障预警决策，输出预警信号。通过本申请可以解决现有技术中存在由于难以有效区分可逆失效模式和不可逆失效模式，导致在芯片工作异常时难以及时做出针对性预警决策的技术问题，达到准确进行可逆失效的恢复，同时提前预防不可逆损坏，保证芯片运行安全的技术效果。