承载机构及测试装置

本申请提供了一种承载机构及测试装置，涉及芯片性能测试技术领域。由于待测的芯片需要频繁换取，而测试工装板的更换频率较低，在没有故障的情况下不需要更换。根据本申请实施例提供的承载机构，针对芯片的更换和测试工装板的不同更换频率采取不同的更换方式，既确保更换过程的方便快捷地进行，同时能够确芯片和测试工装板，尤其是测试工装板的稳定性。