测试用例生成方法、装置及电子设备、存储介质

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测试用例生成方法、装置及电子设备、存储介质
申请号:CN202411436221
申请日期:2024-10-15
公开号:CN119473833A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种测试用例生成方法、装置及电子设备、存储介质,所述方法包括:将系统功能点的重要程度量化以及将系统功能点之间的约束条件数字化;根据所述重要程度量化的结果和所述约束条件数字化的结果,建立图结构,所述图结构包括节点信息、边信息,所述节点信息用以表征功能节点的重要程度,所述边信息用以表征功能点之间的约束关系;在系统功能点发生更变的情况下,维护所述图结构中的所述节点信息和所述边信息;基于强化学习算法探索路径并输出寻找到的满足条件的路径;根据所述寻找到的满足条件的路径中节点之间的约束,生成对应的测试用例。通过本申请降低了测试人员对关联部分的功能和业务逻辑的学习成本,同时提高测试用例的编写效率。
技术关键词
强化学习算法 节点 测试用例生成装置 生成方法 电子设备 待测系统 可读存储介质 结构模块 关系 计算机 处理器 体能 程序 终点 存储器 逻辑 指令 基础
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