支柱绝缘子瓷件表面偏差的测量方法、装置、介质和设备

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正文
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支柱绝缘子瓷件表面偏差的测量方法、装置、介质和设备
申请号:CN202411436362
申请日期:2024-10-15
公开号:CN119268547A
公开日期:2025-01-07
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种支柱绝缘子瓷件表面偏差的测量方法、装置、介质和设备,方法包括:生成待测瓷件的三角化模型;对三角化模型和待测瓷件对应的标准3D模型进行对齐处理,生成待测瓷件的对齐模型;对所述对齐模型进行表面偏差计算,得到待测瓷件的表面偏差值;判断表面偏差值是否在对应的预设公差范围内,若是,则待测瓷件合格,若否,则待测瓷件不合格。本发明不需要采用卡尺、三坐标测量仪等量具,即可完成对待测瓷件进行测量,其操作较简单,工作效率较高,同时本发明可以方便地在注塑前将偏差较大的瓷件予以剔除,避免不合格的瓷件进入注塑工艺流程,提高带有硫化硅橡胶保护层的支柱绝缘子瓷件成品良率,节约成本。
技术关键词
支柱绝缘子 测量方法 偏差 点云 坐标系 注塑工艺流程 数据处理模块 对齐模块 可读存储介质 公差 三坐标测量仪 硫化硅橡胶 成分分析法 ICP算法 三维扫描仪 柱头 计算机 处理器
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