一种LED驱动控制芯片的测试系统及方法

本发明涉及一种LED驱动控制芯片的测试系统及方法。本发明包括待测LED驱动芯片、外围电路、控制模块，其中，所述待测LED驱动芯片级联有多个，只有首个所述待测LED驱动芯片通过所述外围电路与所述控制模块相连，其余的所述待测LED驱动芯片分别通过各自的数据输入端与上一个所述待测LED驱动芯片的数据输出端相连。控制模块通过向首个待测LED驱动芯片的数据输入端输入数据，上一个待测LED驱动芯片通过处理前24位数据并将其锁存，剩余数据经过其内部整形处理电路整形放大后再通过其数据输出端传输至下一个级联的待测LED驱动芯片的数据输入端，每经过一个待测LED驱动芯片的传输，数据减少24位。本发明实现了芯片的全面检测以及快速检测。