投影仪检测方法、装置、设备及存储介质

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投影仪检测方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202411441188
申请日期:2024-10-15
公开号:CN119342192A
公开日期:2025-01-21
类型:发明专利
摘要
本申请实施例公开了投影仪检测方法、装置、设备及存储介质,用于自动检测投影仪是否存在漏光缺陷。本申请实施例方法包括:获取相机拍摄投影平面的第一图像;投影平面包括投影仪投影成像的投影区域和非投影区域;获取在第一图像中投影区域的角点坐标;根据投影区域的角点坐标,将位于非投影区域划分成多个子区域;获取每个子区域的特征信息,并根据各个子区域的特征信息得到投影仪是否合格的检测结果。本申请实施例通过将非投影区域划分为多个子区域,实现对漏光区域的细化检测;并通过子区域特征信息的获取,可以更敏感地捕捉到非投影区域的微小漏光,提升对漏光的检测精度;通过上述自动化的处理过程,减少人工目测的需要,大大提高检测速度。
技术关键词
图像 漏光 分类子模型 相机 Softmax函数 控制投影仪 坐标系 处理单元 信号 成像 矫正 矩阵 可读存储介质 屏幕 存储器 处理器 标记 计算机
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