一种芯片测试机用调整机构

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一种芯片测试机用调整机构
申请号:CN202411445514
申请日期:2024-10-16
公开号:CN119147939A
公开日期:2024-12-17
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片测试机技术领域的一种芯片测试机用调整机构。包括底板,所述底板顶部固接有立柱套,所述立柱套顶部固接有第一电机,所述第一电机输出端连接有单向螺纹杆,所述单向螺纹杆与立柱套为转动配合,所述单向螺纹杆侧壁传动配合有移动块,所述移动块端部转动配合有转动台,所述转动台侧壁固接有安装架,通过第一电机和单向螺纹杆的设置可以对夹持板的高度进行调节,通过辅助滑动组件可以对移动块的位置调节进行辅助滑动,通过转动台可以对安装架的角度进行调节,通过第二电机的设置可以利用双向螺纹杆对夹持板进行位置调节,通过适应组件的设置可以对不同规格的芯片进行适应夹持,加强了芯片测试机用调整机构的调整全面效果。
技术关键词
测试机用 双向螺纹 吸附盘 滑动组件 阻尼器 立柱 移动块 芯片测试机 螺纹杆 防护块 内侧壁 滑轮 底板 阻尼弹簧 输出端 电机 防尘膜 滑槽
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