一种多引脚芯片电容测试装置和系统

本发明涉及一种多引脚芯片电容测试装置和系统。本发明的多引脚芯片电容测试装置，包括：若干个继电器模块和驱动器；每个所述继电器模块，第一端用于连接待测试芯片电容的一对待测试引脚，第二端用于连接LCR仪表的输入端；所述驱动器，在测试指定的目标待测试引脚时，控制所述目标待测试引脚对应的继电器模块闭合，并控制其他待测试引脚对应的继电器模块断开。本发明通过控制继电器模块的通断切换待测试引脚，相对于现有的基于移动滑台的切换引脚方式切换速度更快、操作更方便、控制难度更低、测试效率更高。