基于频率域增强的工业缺陷检测和定位的方法及系统

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基于频率域增强的工业缺陷检测和定位的方法及系统
申请号:CN202411452542
申请日期:2024-10-17
公开号:CN119515780B
公开日期:2025-07-04
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于频率域增强的工业缺陷检测和定位的方法及系统,涉及计算机视觉和图像处理领域,能够从多个视角发现工业图像中的异常模式,还具有较快的推理速度。该方法包括:将输入图像通过高通滤波器处理得到高频图像;将原始图像和高频图像输入到集成了双域特征选择模块的改进U‑Net网络中;在空间域和频率域同时进行图像重建;基于重建结果计算异常分数和定位图。本发明通过结合空间域和频率域分析,实现了对图像局部像素变化和全局频率模式的综合表征,提高了异常检测和定位的准确性。该方法在多个真实工业场景数据集上达到了最优性能。本发明适用于工业产品图像的异常检测和异常区域定位。
技术关键词
特征选择 工业缺陷检测 工业产品图像 图像重建 频率 高通滤波器 编码器 模块 分支 终端设备 像素 Adam算法 调度器 计算机视觉 度函数 里程碑 幅值 图像处理
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