芯片测试方法、电子设备、可读存储介质和程序产品

本申请涉及一种芯片测试方法、电子设备、可读存储介质和程序产品。方法包括：向故障注入系统发送同步请求信号并请求注入故障脉冲；开始运行故障响应程序，并在运行故障响应程序的过程中接收故障注入系统所注入的故障脉冲；其中，运行故障响应程序包括：对内部集成有数据校验和纠正功能的各模块进行顺序操作，并在故障脉冲的作用下针对各模块进行数据校验；若在故障脉冲的作用下异常，响应故障注入系统发送的复位信号后复位，将复位后的第一次数据校验结果发送至故障注入系统，以第一次数据校验结果为异常时的数据校验结果。采用本方法能够解决硬件故障注入方法中，在高能量的故障注入下难以用于ECC的功能验证的问题。