一种用于延迟计算的精度测试平台

本发明公开了一种用于延迟计算的精度测试平台，测试数据采集模块，用于将集成电路的每条时序路径分解为多个独立的stage；测试数据库，用于以标准化格式存储各stage的计算所需信息；测试数据修改及文件生成模块，用于根据测试需求修改存储的stage数据，并将修改后的数据重构为符合特定EDA工具要求的设计文件；测试运行及评估模块，用于执行目标测试软件和对标的第三方软件，解析结果并进行对比分析。本发明公开的一种用于延迟计算的精度测试平台，解决在ASIC大规模设计中，计算精度评估的复杂性和单独模块验证的困难，通过提供一个标准化、模块化的测试环境，显著提高VLSI设计EDA工具的开发效率和准确性，同时提供与第三方软件工具对比的自动化流程。