用于测试芯片与外部电路系统之间的电连接的系统和方法
申请号：CN202411453912
申请日期：2024-10-17
公开号：CN119881614A
公开日期：2025-04-25
类型：发明专利
摘要
本发明论述了用于测试芯片与外部电路系统之间的电连接的系统和方法。在一些实施例中，芯片可包括输入/输出(I/O)端和耦合到所述I/O端的测试电路，其中所述测试电路的振荡频率响应于所述I/O端处的阻抗改变而改变，所述阻抗改变是由连接故障或劣化引起的。
技术关键词
测试电路
施密特触发器
焊料接头
频率响应
芯片
计数器
电路系统
反馈电阻器
谐振
天线
短路
标识
