光学缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

本申请提供一种光学缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取待检测目标的目标图像及与所述待检测目标相邻的至少一个参考目标的参考图像；将所述目标图像与所述参考图像进行差分处理，获得差分图像；确定所述差分图像的缺陷感兴趣区域；基于深度学习网络模型识别并过滤掉所述缺陷感兴趣区域中的伪缺陷区域，获得更新的缺陷感兴趣区域；所述伪缺陷区域为不需要被识别为缺陷的区域；基于更新的缺陷感兴趣区域识别所述待检测目标图像的缺陷。采用上述方案，提升了缺陷检测的准确性以及检测效率，降低了检测成本。