一种芯片老化测试方法和控制器

本发明公开了一种芯片老化测试方法和控制器，涉及芯片测试技术领域，该方法包括：CPU读取测试数据；流程控制状态机响应于开始指令读取数据长度信息；流程控制状态机根据数据长度信息配置DMA模块的读取参数，根据读取参数从DDR模块中读取同一时间内需要发送的目标数据；数据分隔模块将目标数据分为发送数据流和标准数据流，并将发送数据流发送给被测芯片，将标准数据流发送给波形检查模块；波形检查模块接收被测芯片发送的返回信号，将返回信号与标准数据流进行比对，并将比对结果返回。本方案使芯片老化测试控制器可以实现同一时间对多颗待测芯片发送测试激励，摆脱对测试机台的环境依赖，在提高测试灵活性的同时降低了实现成本。