一种OCT测量系统及测量方法

AITNT
正文
推荐专利
一种OCT测量系统及测量方法
申请号:CN202411457899
申请日期:2024-10-18
公开号:CN119322030B
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本申请提供的OCT测量系统及测量方法,包括光源单元、参考臂光路单元、样品臂光路单元、光谱仪、预览相机及计算机,所述光源单元包括光源、光纤环形器及耦合器;所述参考臂光路单元包括第一准直器及反射镜;所述样品臂光路单元包括第二准直器扫描振镜、二向色镜、扫描透镜及样品台,本申请通过精确控制扫描振镜的扫描路径,实现光路方向的灵活调整,使光点能够在样本表面进行二维扫描,由于在扫描振镜与扫描透镜之间叠加一个长波通二向色镜,使预览相机的光路与OCT光路实现同轴,简化了系统结构,避免了预览相机视场受扫描振镜运动的限制,提高了测量的灵活性与测量效率。
技术关键词
预览相机 扫描振镜 样品台 光纤环形器 准直器 二向色镜 光谱仪 后向散射光 光源单元 计算机 反射镜 耦合器 样本 透镜 辐射发光二极管 测量方法 3D点云数据 棋盘格标定板 图像重建算法
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号