一种随机测试方法、装置及设备

本申请公开了一种随机测试方法、装置及设备，涉及芯片验证技术领域。该随机测试方法包括：获取目标随机测试变量对应的目标队列，所述目标队列中记录有所述目标随机测试变量的N个历史随机值，N为非负整数；基于所述目标队列，生成所述目标随机测试变量的第一随机值，所述第一随机值与所述目标队列中记录的所述N个历史随机值不相同；基于所述第一随机值，对待测设计芯片进行随机测试。根据本申请实施例，能够达到有效提升随机测试效率的目的。