一种多环境状态下的芯片性能测试方法及装置

本发明涉及集成电路芯片技术领域，公开了一种多环境状态下的芯片性能测试方法及装置。该方法获取多个环境状态对应的环境信息，并在各环境信息中识别第一芯片的多个关键影响因素；结合各关键影响因素分析第一芯片的多个历史运行信息，得到各环境状态对应的多个芯片影响参数；基于第一芯片的结构参数信息和多个芯片影响参数，构建各环境状态对应的仿真测试模型；利用各环境状态对应的仿真测试模型分别对第一芯片进行性能测试，得出第一芯片在各环境状态下的测试结果；分别对第一芯片在各环境状态下的测试结果进行分析调整，得出第一芯片在各环境状态下的芯片运行性能。本发明提高了多环境条件下芯片性能测试的精准度和效率，降低了测试成本。