一种有效缺陷报告检测方法、装置、电子设备及存储介质

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一种有效缺陷报告检测方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202411465721
申请日期:2024-10-21
公开号:CN119415428A
公开日期:2025-02-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及软件工程缺陷智能检测技术,揭露了有效缺陷报告检测方法,包括:获取缺陷报告,提取所述缺陷报告中的结构化特征和非结构化特征;将所述结构化特征以及所述非结构化特征进行特征融合得到融合特征,输入融合特征至重复缺陷报告检测模型,利用重复缺陷报告检测模型检测所述缺陷报告是否为重复缺陷报告;若缺陷报告为重复缺陷报告,则缺陷报告为无效报告;若缺陷报告为非重复缺陷报告,将融合特征输入至缺陷报告自动分类模型,利用缺陷报告自动分类模型对缺陷报告分类进行分类,得到缺陷报告为有效报告或无效报告的分类结果。本发明还提出一种有效缺陷报告检测装置、电子设备及存储介质。本发明可以提高有效缺陷报告检测的效率和准确性。
技术关键词
重复缺陷 报告 非结构化特征 融合特征 文本 异构信息网络 语义特征 电子设备 缺陷智能 特征提取模块 注意力 处理器通信 可读存储介质 存储器 线性 计算机 编码 节点
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