一种车规级芯片中脆弱单元的筛选方法、系统及存储介质

本发明提供了一种车规级芯片中脆弱单元的筛选方法、系统及存储介质，通过分析待测试车规级芯片的电路结构，提取出与预设安全目标相关联的电路模块；对电路模块进行分析，识别出引发故障事件的脆弱模块，基于等价性检验的方式对筛选出的脆弱模块进行分析测试，筛选出脆弱模块中的脆弱单元。本发明方法从微观角度出发，从待测试的车规级芯片的电路结构中提取出可能会发生故障的脆弱模块，对脆弱模块进行形式化分析，筛选出脆弱单元，从而实现高效和完备的识别出芯片电路中的安全薄弱点，为车规级芯片有针对性的安全设计加固及安全性能提高，提供了技术支持。