一种像素型X射线探测芯片像素参数自动化修正方法
申请号：CN202411467566
申请日期：2024-10-21
公开号：CN119421064A
公开日期：2025-02-11
类型：发明专利
摘要
本发明提供一种像素型X射线探测芯片像素参数自动化修正方法，首先在像素型X射线探测芯片配置像素性能参数自动化扫描测试的功能及端口，通过对探测芯片像素性能参数自动化扫描测试，获取全部像素的性能参数差异数据，建立全部像素的参数修正函数库，像素型X射线探测芯片获得的原始数据经像素参数修正函数库后输出，即可得到消除了像素性能参数差异的输出结果。
技术关键词
像素
X射线探测
基线
读出电路
芯片
修正方法
前置放大器
动态响应测试
参数
测试模块
射线源
信号
阈值可调
幅值
标志
噪声
线性
端口
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