基于频谱扩展的双通道FRI欠采样与参数测量方法

一种基于频谱扩展的双通道FRI欠采样与参数测量方法，包括以下步骤：步骤一、对脉冲序列和基脉冲进行数学建模；步骤二、结合脉冲序列的特征，对信号的采样结构进行设计；步骤三、脉冲序列的频谱搬移过；步骤四、基脉冲的频谱搬移过程；步骤五、脉冲序列和基脉冲的采样核滤波、低速采样过程；步骤六，消除滤波器的非理想效应，恢复出脉冲序列。本发明降低了采样系统的采样率，同时提高了欠采样系统的灵活性。根据两个通道获取的采样样本之间的相关性，消除掉非理想LPF对参数恢复精度的影响，有效的提高了系统的参数重构性能。