基于ZYNQ的千兆以太网PHY芯片PTP测试方法

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基于ZYNQ的千兆以太网PHY芯片PTP测试方法
申请号:CN202411468970
申请日期:2024-10-21
公开号:CN118984286B
公开日期:2025-02-07
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于ZYNQ的千兆以太网PHY芯片PTP测试方法,包括步骤:S1、进行硬件配置:设置主从系统,集成时钟源并模拟网络条件;S2、设置软件驱动程序;S3、获得多个测试用例的测试结果;S4、进行多角度性能分析。本发明用主从系统的PHY芯片和ZYNQ芯片进行同步测试,可在示波器显示精准的测试结果,有效提升测试准确性;还优化ZYNQ芯片的处理系统和可编程逻辑的结构,以多种专用的高效接口进行传输,并在软件驱动程序的控制下以MAC控制器控制多个测试用例,有效做到精准的时钟对准和时间同步;此外,还对最终测试结果进行多角度性能分析,进一步提升测试的可靠性。
技术关键词
软件驱动程序 测试方法 示波器 联接单元 处理器模块 JTAG接口 UART接口 实时时钟 时间同步 多角度 ZYNQ芯片 IP核 控制器 集成时钟 脉冲 逻辑 信号
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