一种复合钝化膜的形成方法及包含该钝化膜的芯片

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一种复合钝化膜的形成方法及包含该钝化膜的芯片
申请号:CN202411469353
申请日期:2024-10-21
公开号:CN118969641B
公开日期:2024-12-20
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片钝化技术领域,具体涉及一种复合钝化膜的形成方法及包含该钝化膜的芯片。包括以下步骤:半导体晶片表面的预处理;ZnS钝化膜的磁控溅射及等离子处理;六氟化硫气氛辅助钝化晶片退火。本发明通过对镀膜晶片表面进行H2S和氮气的混合气体等离子体处理,H2S和氮气的混合气体等离子体产生的H2S团簇离子提供了丰富的S离子,在ZnS薄膜中的S空位处填充了S离子,钝化了S悬挂键,从而减少了薄膜的缺陷和应力,提高了ZnS薄膜的结晶度,增强薄膜的稳定性和均匀致密性,并且H离子能够调整薄膜表面的电荷分布,进一步促进S离子的填充和钝化效果,避免了钝化膜出现微裂纹、微缺陷、膜层脱的问题,提高了芯片的可靠性。
技术关键词
蒸汽加热反应釜 六氟化硫气体 排气净化系统 六氟化硫气氛 半导体晶片表面 退火晶片 恒温加热台 氮气 磁控溅射仪 退火炉 芯片钝化技术 超声频率 去离子水 镀膜 气体回收装置 超声波清洗机 薄膜
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沪ICP备2023015588号