一种新式SiC抗翘曲薄膜沉积工艺方法

AITNT
正文
推荐专利
一种新式SiC抗翘曲薄膜沉积工艺方法
申请号:CN202411470483
申请日期:2024-10-21
公开号:CN119530776A
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及晶体加工领域,尤其涉及一种新式SiC抗翘曲薄膜沉积工艺方法,在工艺开始阶段,会先对晶圆进行吸附,并检查真空度确保晶圆吸附平整无漏吸;在工艺过程中,加热台全程进行吸附,保证薄膜生长均匀性;在工艺结束后,增加应力释放环节,通过提高加热台温度,对晶圆应力进行释放,防止晶圆冷却后再次翘曲。本发明中抗翘曲薄膜沉积工艺方法,通过修改相应结构,在SiC衬底工艺过程中,增加底部吸附拉平环节,对衬底施加反向作用力,从而保证沉积的薄膜均匀生长在衬底的表面,并通过增加释放应力环节,防止工艺结束后的晶圆再次翘曲,大大提高了晶圆的工艺良率。
技术关键词
薄膜沉积工艺 加热台 工艺腔 真空度 机器人抓取 晶圆 应力 设备自检 衬底 冷却腔 抽真空 作用力 备料 良率 上料 晶体 阶段
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号