车辆芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质

本发明公开了一种车辆芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质。其中，该方法包括：获取目标芯片的待测试功能和目标评估板的电路设计信息；对电路设计信息进行解析，得到目标芯片的端口信息；基于待测试功能调整端口信息以进行测试，生成初始测试结果；对多个初始测试结果进行汇总，得到目标测试结果，其中，目标测试结果用于确定目标芯片是否通过测试。本发明解决了相关技术中车辆芯片测试方法效率和准确性低下的技术问题。