一种AXI总线测试激励源及其芯片功能验证方法

本发明公开一种AXI总线测试激励源及其芯片功能验证方法，涉及仿真测试领域，测试激励源的参数配置模块进行参数配置，并在完成参数配置后触发写操作开始信号和读操作开始信号；写操作模块在接收到写操作开始信号，并检测到存在未被占用状态的写操作ID后，为本次写操作分配目标写ID，将目标写ID更改为占用状态，并依据获取的本次写操作的目标写地址和目标写ID将本次写操作的写入数据发送至目标被测器件；读操作模块依据获取的本次读操作的目标读地址和目标读ID从目标被测器件中读取对应的写入数据，在本次读操作结束后，根据读取的写入数据与预设写入值进行数据正确性校验。本发明能提供outstanding>1的测试激励，从而满足高吞吐量和数据校验的验证需求。