摘要
本发明涉及芯片封装技术领域,提供一种多芯片三维封装结构及封装方法。所述封装结构包括:多个模塑介质层以及多个芯片组,多个芯片组分别塑封于多个模塑介质层中,多个芯片组通过模塑介质层中的塑封通孔实现互连;相邻两个芯片组的多个芯片倒装于相邻两个模塑介质层之间的再布线层上;相邻两个芯片组中至少一个芯片组包括多个具有高速率接口和低速率接口的芯片,该芯片组的多个芯片的高速率接口通过互连桥连接,相邻两个芯片组中各芯片的低速率接口通过相邻两个模塑介质层之间的再布线层引出至塑封通孔。本发明采用互连桥并使用塑封通孔(TMV)与再布线层(RDL)相结合的封装工艺,降低了多芯片三维封装的技术难度和制造成本。
技术关键词
三维封装结构
模塑
三维封装方法
布线
介质
高速率
多芯片
层叠
导电金属层
接口
芯片封装技术
金属焊球
载板
通孔
封装工艺
电镀工艺
系统为您推荐了相关专利信息
电设备故障
故障检测模型
监控设备
云平台
故障类别
气密性检测方法
神经网络模型
过滤减压阀
切断阀
对象
傅里叶变换算法
液面监测方法
方差贡献率
声波
周期性
诊断系统
诊断方法
长短期记忆网络
数据处理模块
数据管理模块