基于自适应阈值方法的强磁芯片检测方法

本发明涉及一种基于自适应阈值方法的强磁芯片检测方法，包括利用历史检测数据，基于不同条件下的芯片样本、样本间相似性关系和各样本的磁性特征，得到磁性特征分布快照，计算磁性特征分布；基于磁性特征分布快照，建立预测未来磁性特征分布的主任务，得到分布的预测结果；基于变化的磁性特征分布，建立未来磁性特征分布变化的辅助任务，得到未来磁性特征分布变化的预测结果；将所述主任务和辅助任务的预测结果结合当前条件的磁性特征分布，输入神经网络得到最终的磁性特征分布及对应的强磁芯片初步检测结果；计算多任务复合损失函数得到强磁芯片检测结果。本发明可以提高检测的准确性和效率，并提升芯片质量控制和生产效率。