验证方法、验证装置及存储介质

本申请公开了一种测试向量的验证方法、验证装置及存储介质。该验证方法包括：获取验证待测芯片的仿真环境；在仿真环境中，对待测芯片模型的顶层端口添加多路选择器；在多路选择器使能信号的无效电平期间，经多路选择器向待测芯片模型提供寄存器传输级的驱动信号以获得测试向量；在多路选择器使能信号的有效电平期间，经多路选择器向待测芯片模型提供测试向量以获得仿真波形；比较仿真波形与期望波形，并根据比较结果判断测试向量是否正确，其中，在仿真波形与期望波形一致的情况下判定测试向量正确。通过对仿真环境的复用，降低搭建仿真环境对时间成本及人工成本的消耗，利于提高晶圆的测试效率。