一种3D堆叠芯片的TSV修复系统及方法

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一种3D堆叠芯片的TSV修复系统及方法
申请号:CN202411488739
申请日期:2024-10-23
公开号:CN119601066A
公开日期:2025-03-11
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种3D堆叠芯片的TSV修复系统及方法,该TSV修复系统包括至少两个堆叠的芯片、至少一个TSV阵列、至少一个TSV电流检测电路及控制器,芯片包括移位寄存器模块,两个芯片通过TSV阵列关联,TSV电流检测电路及移位寄存器模块均分别与TSV阵列、控制器连接,TSV模块包括多个主TSV组及多个备用TSV组。本申请通过TSV电流检测电路检测每个主TSV组的电流,再由控制器根据检测到的电流确定相应的主TSV组是否存在故障,若主TSV组存在故障,则通过移位寄存器模块将流经该故障TSV组的数据传输至其余正常的主TSV组或备用TSV组,也即用其余正常的主TSV组或备用TSV组替换该故障TSV组,从而能够有效节省修复资源、提高修复资源的利用率,以提高芯片的良率。
技术关键词
移位寄存器模块 电流检测电路 激励信号发生器 修复系统 开关管 电流值 堆叠芯片 传输门 反相器 修复方法 阵列 控制器 异常状态 信号生成器 数据处理设备 电源
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