一种多通道单频VCSEL芯片测试底座

本发明提供一种多通道单频VCSEL芯片测试底座，涉及激光器芯片测试技术领域，包括底板，所述底板顶部中心处设有放置组件，所述放置组件包括加热底座，所述加热底座顶部固定有TEC制冷片，所述TEC制冷片内部设置有导热座，所述底板位于放置组件的两侧设有托板，且导热座和一侧托板上均设有测试座，所述测试座表面上等距开设有多个放置槽，相对于现有技术，通过测试座能够一次装载多枚VCSEL芯片，所有测量完成后再进行一次性装载，可大幅提高测量效率，针对VCSEL芯片的电流－温度－波长工作点测试，能够提供室温可调节的控温范围，通过升降组件和托板的配合，便于两组测试座切换使用，提高测试效率。