一种芯片测试治具主板、芯片测试主机

本发明公开了一种芯片测试治具主板，治具主板上包括第一区域和第二区域，第一区域可扩展耦接扩展测试电路；第二区域环绕第一区域设置，第二区域设置有若干输出接口用于与待测试芯片建立电连接或信号连接。本发明的芯片测试治具主板，具有可扩展、体积小，使用寿命长，待测芯片类型兼容性好，可操作性强等优点，可以保障测试质量的同时大大提高测试效率。