一种测试nvme硬盘上电时间的测试系统及方法

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一种测试nvme硬盘上电时间的测试系统及方法
申请号:CN202411501821
申请日期:2024-10-25
公开号:CN119537114A
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种测试nvme硬盘上电时间的测试系统及方法,包括PCIE状态机、日志记录模块、日志分析模块、时钟电路模块和上电时间分析模块,PCIE状态机中设有命令发送模块,PCIE状态机表示PCIE设备接口的状态以及转换数据;命令发送模块向服务器主机持续发送ICMP回显请求数据,并持续等待主机返回ICMP回显应答;日志记录模块对PCIE状态机中日志进行记录;日志分析模块对PCIE状态机产生日志进行分析,并判断PCIE状态机的通信链路的工作状态;时钟电路,用于生成和提供精确稳定的时钟信号;上电时间分析模块基于日志分析结果和日志记录获取日志和时钟电路获取相应的硬盘上电时间。无需使用专业仪器实现对硬盘上电时间进行测试,降低了服务器硬盘测试成本。
技术关键词
日志分析 状态机 时钟电路模块 抓取模块 服务器主机 分析模块 电容 PCIE设备 关键词 命令 文本 服务器硬盘测试 芯片 端口 晶体振荡器
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