摘要
本发明涉及芯片管理技术领域,揭露了一种应用于存储芯片制备下的安全管理方法及系统,包括:确定芯片工艺设备对应的芯片制造规约,制定芯片工艺设备对应的安全预警指标;采集存储芯片在制备工程中的芯片制备数据,基于芯片制备数据,分析芯片工艺设备对应的制备特性维度,计算安全预警指标对应的指标安全因子,评测芯片工艺设备对应的设备安全性能;分析存储芯片对应的芯片物理属性,分析存储芯片对应的微观电路特征,计算存储芯片对应的质量信赖指数;分析存储芯片在存储区域中的存储契合度;制定存储芯片对应的安全管理策略,执行存储芯片在制备下的安全管理,得到管理结果。本发明主要目的在于解决存储芯片制备下的安全管理低的问题。
技术关键词
存储芯片
工艺设备
标签
管理方法
指标
轮廓向量
轮廓面积
芯片封装
物理
管理策略
电路
指数
字符
因子
芯片管理技术
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