一种芯片防结霜的自动下料机构

本申请公开了一种芯片防结霜的自动下料机构，涉及元器件低温电性能测试领域，包括通过太空舱结构在低温箱内通入干燥的低温氮气，保持低温环境不易结霜，转动圆盘机构存储待测器件，控制台控制转动圆盘的待取芯片盒旋转至手孔一侧，且控制取料机构到达不同高度的转动圆盘上进行取料，手孔传送器件至太空舱结构实现完整下料。达到了在低温电性能测试过程中防止芯片结霜的技术效果。