一种芯片测试数据处理方法、装置及存储介质

本发明涉及芯片测试数据处理技术领域，具体公开一种芯片测试数据处理方法、装置及存储介质，该方法包括：在预设的工作环境下对待测试内存进行基础测试，将未通过基础测试的待测试内存标记为残次品，将通过基础测试的待测试内存标记为非残次品；对非残次品进行逐级标准测试，将测试结果与对应等级测试标准进行比对，得到非残次品的质量等级。本发明通过指定多个等级的测试标准对内存进行质量测试，确保内存在不同工作负载和条件下都能稳定、高效地运行。逐级标准测试的测试方法有效提升了内存的可靠性，降低了故障率，同时提高了内存测试效果，从而提供更具体、更有针对性的产品质量信息。